Способ одной степени точности

Определим количество единиц допуска в размерной цепи по формуле , что соответствует 12 квалитету (табл.8.3).

По ГОСТ 25347 или по табл. П1.8 определяем предельные отклонения на все составляющие звенья, кроме одного, третьего.

По табл. П1.8 поля допусков на размеры соответственно равны:

-7 мм по 12-му квалитету равен 150 мкм

-4 мм по 12-му квалитету равен 120 мкм

-10 мм по 12-му квалитету равен 150 мкм

-51 мм по 12-му квалитету равен 250 мкм

-101 мм по 12-му квалитету равен 300 мкм

Так как для основного отверстия нижнее предельное отклонение равно нулю, то верхнее предельное отклонение численно равно допуску.

Для основного вала верхнее предельное отклонение равно нулю, а нижнее предельное отклонение численно равно допуску со знаком минус.

Тогда можно записать следующее соотношение:

А1=7Н12= ; А5=7Н12= ; А7=10Н12= ; А8=51Н12= ; А9=101Н12= ;

А10=10Н12= ; А2=4h12= ; А4=4h12= .

Определим поля, и координаты середин полей допусков составляющих звеньев:

Поля допусков:

ITA1=ESA1-EIA1=150-0=150мкм=0.150мм;

ITA2=esA2-eiA2=0-(-120) =120мкм=0.120мм;

ITA4=esA4-eiA4=0-(-120) =120мкм=0.120мм;

ITA5=ESA5-EIA5=150-0=150мкм=0.150мм;

ITA7=ESA7-EIA7=150-0=150мкм=0.150мм;

ITA8=ESA8-EIA8=250-0=250мкм=0.250мм;

ITA9=ESA9-EIA9=300-0=300мкм=0.300мм;

ITA10=ESA10-EIA10=150-0=150мкм=0.150мм;

Координаты середин полей допусков:

Определим поле допуска оставшегося (третьего) звена из условия:

Подставляя данные, получим:

Откуда ITA3=0.1452мм;

Скорректируем координаты середин полей допусков с учетом коэффициента относительной асимметрии по формуле:

для охватываемых звеньев:

;

для охватывающих звеньев:

Подставляя данные, получим:

мм;

мм.

Определим координату середины поля допуска оставшегося (третьего) звена из условия

Подставляя данные, получим:

Откуда 0,204

Предельные отклонения звена А3 определим по формулам

Список литературы:

1. Единая система допусков и посадок СЭВ в машиностроении и приборостроении: Справочник: В 2 т. – 2-е издание, переработанное и дополненное – М.: Издательство стандартов, 1989. Т. 1. – 263 с., ил.

2. Радкевич Я.М. Метрология, стандартизация и сертификация. Учебное пособие. Ч. 1. – М.: МГГУ, 2003 г.

3. Радкевич Я.М. Метрология, стандартизация и сертификация. Учебное пособие. Ч. 2. – М.: МГГУ, 2003 г.

4. Радкевич Я.М. Метрология, стандартизация и сертификация. Учебное пособие. Ч. 3. – М.: МГГУ, 2003 г.