Основные указания

Для выполнения данной работы студентам необходимо знать:

понятие элементарной кристаллической ячейки, основные типы пространственных решеток для металлов /ОЦК, ГЦК, гексагональная/, индексы Миллера

Особое внимание следует обратить на взаимосвязь межплоскостного расстояния и_ индексов Миллера, например, для кубической решетки , где - параметр кристаллической решетки; , , - индексы Миллера.

Важно помнить, что при рассеянии рентгеновских волн, или пучка электронов на кристалле, наблюдается интерференция рассеянных волн, причем, максимумы интерференционно-дифракционной картины определяются известной формулой Вульфа-Брэггов

, (1)

где - длина волны; - угол между направлением распространения волны /волновым вектором/ и семейством плоскостей кристалла с межплоскостным расстоянием ; - порядок отражения (рис.1).

Вместо индексов Миллера удобно рассматривать индексы интерференции , , , которые определяются как , , . (2). Тогда дифракционный максимум с индексами , , , равными (200), получается в результате отражения второго порядка от плоскостей(100). Формула (1) справедлива и для индексов интерференции, в этом случае, - межплоскостное расстояние для плоскостей с индексами ( ).

Измерения углов , образованных дифрагированными лучами с падающим на кристалл лучом, можно производить как с помощью ионизационной камеры и других счетчиков, так и фотографическим методом. При этом надо знать, что пленки, фиксирующие одновременно след многих дифрагированных рентгеновских лучей, называются рентгенограммами, а те, на которых зафиксированы дифрагированные электронные пучки - электронограммами. Бумажные ленты, на которых записаны показания счетчика, - это дифрактограммы.