Индицирование дифрактограммы
1. На дифрактограмме определить масштаб 
записи дифракционной картины по имеющимся меткам и соответствующим этим меткам значениям углов 
. Для этого необходимо измерить миллиметровой линейкой расстояние 
между двумя метками 2 
и 2 
и определить величину/см. рис.4/ 
,
2. Рассчитать с помощью полученного значения масштаба и измеренных расстояний от какой-либо метки 2 до первых 5-6 максимумов дифракционной картины /указаны чертой на дифрактограмме/ значения соответствующих углов 2 
: 
.
3. Вычислить углы , затем sin и 
.
4.Рассчитать о помощью формулы (6) ряд чисел 
, а затем по табл.1 определить тип кристаллической решетки, величину 
и индексы интерференции первого максимума 
.
5. Зная величину , рассчитать индексы интерференции 
, 
, 
всех исследованных семейств плоскостей.
6. Используя полученные значения углов и данное преподавателем значение длины волны рентгеновских лучей 
с помощью формулы (4), рассчитать межплоскостные значения 
.
7. Полученные межплоскостные расстояния использовать для расчета параметра элементарной ячейки 
(формула 5).
8. Построить график зависимости 
.
9. Оценить относительную и абсолютную погрешности определения параметра 
в зависимости от угла рассеяния.
10. С помощью данных, приведенных в табл. 2 определить, какое вещество исследовано.
Данные наблюдений и вычислений рекомендуется занести в табл. 3.
Таблица 3
Расстояние
между угловыми метками 
| 
| 
| 
| 
| sin
|
| 
| 
| , 
| ,
|