Основные указания
Для выполнения данной работы студентам необходимо знать:
понятие элементарной кристаллической ячейки, основные типы пространственных решеток для металлов /ОЦК, ГЦК, гексагональная/, индексы Миллера
Особое внимание следует обратить на взаимосвязь межплоскостного расстояния и_ индексов Миллера, например, для кубической решетки , где
- параметр кристаллической решетки;
,
,
- индексы Миллера.
Важно помнить, что при рассеянии рентгеновских волн, или пучка электронов на кристалле, наблюдается интерференция рассеянных волн, причем, максимумы интерференционно-дифракционной картины определяются известной формулой Вульфа-Брэггов
, (1)
где - длина волны;
- угол между направлением распространения волны /волновым вектором/ и семейством плоскостей кристалла с межплоскостным расстоянием
;
- порядок отражения (рис.1).
![]() |
Вместо индексов Миллера удобно рассматривать индексы интерференции ,
,
, которые определяются как
,
,
. (2). Тогда дифракционный максимум с индексами
,
,
, равными (200), получается в результате отражения второго порядка от плоскостей(100). Формула (1) справедлива и для индексов интерференции, в этом случае,
- межплоскостное расстояние для плоскостей с индексами (
).
Измерения углов , образованных дифрагированными лучами с падающим на кристалл лучом, можно производить как с помощью ионизационной камеры и других счетчиков, так и фотографическим методом. При этом надо знать, что пленки, фиксирующие одновременно след многих дифрагированных рентгеновских лучей, называются рентгенограммами, а те, на которых зафиксированы дифрагированные электронные пучки - электронограммами. Бумажные ленты, на которых записаны показания счетчика, - это дифрактограммы.