Тема 2. Набуття прав на промисловий зразок
ВСТУП
Інтелектуальна власність – це формалізований результат творчої інтелектуальної діяльності, що надає його автору або особі, яка визначена чинним законодавством, право власності на цей результат, яке набувається, здійснюється і захищається відповідно до законодавчо встановлених норм і правил. Урегульовані законодавством суспільні відносини щодо володіння, користування і розпоряджання результатами інтелектуальної творчої діяльності складають інститут права інтелектуальної власності.
Метою вивчення навчальної дисципліни є формування у студентів розуміння особливостей набуття прав інтелектуальної власності на окремі об’єкти права інтелектуальної власності.
Формами самостійної роботи студентів з цієї дисципліни є опрацювання лекційного матеріалу, підготовка до семінарських занять відповідно до навчально-тематичного плану дисципліни, виконання завдань для самостійної роботи, зокрема підготовка доповіді.
Результати контролю мають вирішальне значення при підсумковому оцінюванню їх знань з навчальної дисципліни.
1. МЕТОДИЧНІ РЕКОМЕНДАЦІЇ ДО САМОСТІЙНОЇ ПІДГОТОВКИ
Мета самостійної роботи полягає у глибокому самостійному вивченні набуття прав інтелектуальної власності на окремі об’єкти права інтелектуальної власності, зокрема на винаходи (корисні моделі), промислові зразки, топографії інтегральних мікросхем, комерційні позначення, сорти рослин з урахуванням як теоретичних розробок, так і нормативно-правових приписів.
Виконання самостійної роботи необхідно починати з опрацювання конспекту лекцій, вивчення відповідних розділів підручників, навчальних посібників, нормативних актів, що наведені у переліку рекомендованої літератури, а також практичних матеріалів, які студент повинен знайти і опрацювати самостійно.
Формами контролю за ефективністю самостійної роботи студентів є опитування на семінарських заняттях, підготовка доповіді за запропонованим планом.
Результати контролю мають головне значення при модульній атестації студентів та остаточній оцінки їх знань з курсу.
Під час підготовки до семінарських занять студент повинен готуватися з використанням всіх відомих йому методів опрацювання литератури та конспектів. При написанні письмових робіт забороняється переписувати підручники, нормативні акти тощо. Цитування робіт окремих авторів необхідно наводити з посилання на джерела їх опублікування, який наводиться в кінці роботи у списку використаної літератури.
Під час написання роботи студент повинен поряд з теоретичним висвітленням аспектів теми, дати її аналіз на прикладі практичних матеріалів щодо охорони, захисту і використання прав на об'єкти інтелектуальної власності. У разі повернення робот студенту для виправлення помилок, перероблена робота повинна надаватися для перевірки разом з поверненою.
На підготовку до кожної теми відводиться наступна кількість годин:
| № з/п | Підготовка до практичних занять та виконання самостійного домашнього завдання за темами: | Кількість годин |
| Набуття прав на винаходи (корисні моделі) | ||
| Набуття прав на промислові зразки | ||
| Набуття прав на топографії інтегральних мікросхем | ||
| Набуття прав на комерційні найменування | ||
| Набуття прав на сорти рослин | ||
| Разом |
2. МЕТОДИЧНІ ВКАЗІВКИ ДО САМОСТІЙНОГО ВИВЧЕННЯ ТЕОРЕТИЧНОГО МАТЕРІАЛУ
Тема 1. Набуття прав на винаходи (корисні моделі).
Органи патентної експертизи, їх задачі та функції. Порядок сплати зборів за дії, пов’язані із охороною прав на об’єкти інтелектуальної власності. Діалектичні методи та закони логіки в експертизі винаходів (корисних моделей).
Технічна задача, технічний результат та споживчі властивості об’єкта винаходу (корисної моделі). Методика визначення технічної задачі (цілі) і шляху її вирішення. Методика визначення суті (сукупності ознак) технічного рішення. Типові об’єкти винаходу (корисної моделі) та ознаки, що їх характеризують. Об’єкт і ознаки технічного рішення як суть винаходу (корисної моделі). Суттєві ознаки технічного рішення (об’єкту винаходу, корисної моделі). Логічні прийоми виявлення суттєвих ознак технічного рішення (об’єкту винаходу, корисної моделі). Методика виявлення об’єктів винаходу (корисної моделі). Вимога єдності винаходу (корисної моделі).
Логічний зв’язок опису винаходу з формулою винаходу (корисної моделі) та результатами патентно-інформаційних досліджень щодо виявлення винаходів (корисних моделей). Теоретичні основи побудови логічних доказів та їх застосування в практиці складання описів винаходів (корисних моделей). Призначення формули винаходу (корисної моделі) та вимоги до неї. Структура формули винаходу (корисної моделі). Заява про видачу патенту на винахід (корисну модель) та вимоги до її складання. Методика складання формули винаходу (корисної моделі). Особливості складання формули винаходу (корисної моделі) щодо об’єктів винаходу (корисної моделі) та аналіз типових помилок.
Правила (інструкція) складання опису винаходу (корисної моделі). Правила класифікування об’єктів техніки (винаходів, корисних моделей). Особливості складання опису винаходу (корисної моделі) щодо об’єктів винаходу (корисної моделі). Правила (інструкція) складання заявки на винахід (корисну модель). Особливості складання опису винаходу (корисної моделі) щодо об’єктів винаходу та корисної моделі.
Правила (інструкція) розгляду матеріалів заявки на винахід (корисну модель) органами патентної експертизи. Склад документів заявки про видачу патенту на винахід (корисну модель), вимоги до їх змісту та оформленню. Порядок подання заявки на винахід (корисну модель) за національною та міжнародною (регіональними) процедурами набуття прав інтелектуальної власності. Правила (інструкція) розгляду матеріалів заявки на винахід (корисну модель) органами патентної експертизи. Види висновків, рішень та запитів органів патентної експертизи за матеріалами заявки про видачу патенту на винахід (корисну модель).
Особливості оформлення матеріалів заявки на винахід за міжнародними та регіональними процедурами набуття прав. Поняття національної і міжнародної фази процедури Договору РСТ. Міжнародні пошук, публікація та попередня експертиза матеріалів заявки про видачу патенту на винахід (корисну модель) за процедурою Договору РСТ.
Рекомендовані інформаційні джерела 1-9, 15-21, 32, 40, 41, 42, 44.
Ключові слова: винахід, корисна модель, органи патентної експертизи, технічна задача, технічний результат, об’єкти винаходу (корисної моделі), єдність винаходу (корисної моделі), опис винаходу (корисної моделі), формула винаходу (корисної моделі), заява про видачу патенту на винахід (корисну модель), Договір РСТ.
Тема 2. Набуття прав на промисловий зразок.
Заява про видачу патенту на промисловий зразок та вимоги до її складання. Назва, призначення та галузь застосування промислового зразка. Об’єкти, композиція, суть та суттєві ознаки промислового зразка. Методи виявлення суттєвих ознак промислового виробу що є промисловим зразком. Вимога єдності промислового зразка.
Правила (інструкція) складання опису промислового зразка. Правила класифікування промислових зразків. Особливості складання опису промислових зразків в залежності від їх виду. Правила (інструкція) складання заявки на промисловий зразок.
Склад документів заявки про видачу патенту на промисловий зразок, вимоги до їх змісту та оформленню. Порядок подання заявки на промисловий зразок за національною та міжнародною (регіональними) процедурами набуття прав інтелектуальної власності. Правила розгляду матеріалів заявки на промисловий зразок за національною процедурою набуття прав інтелектуальної власності. Види висновків, рішень та запитів патентної експертизи за матеріалами заявки про видачу патенту на промисловий зразок
Рекомендовані інформаційні джерела 1-8, 10, 22-24, 32, 35-37.
Ключові слова: промисловий зразок, єдність промислового зразка, опис промислового зразка, заявка про видачу патенту на промисловий зразок.
Тема 3. Набуття прав на топографії інтегральної мікросхеми.
Склад документів заявки про реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми, вимоги до їх змісту та оформленню. Правила складання заявки на реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми. Заява про реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми та вимоги до її складання. Порядок подання заявки на реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми. Правила розгляду матеріалів заявки про реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми. Види висновків, рішень та запитів патентної експертизи за матеріалами заявки про реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми.
Рекомендовані інформаційні джерела 1-8, 11, 29-31, 45.
Ключові слова: топографія інтегральної мікросхеми, заявка про реєстрацію топографії інтегральної мікросхеми.
Тема 4. Набуття прав на комерційні позначення.
Ідентифікація комерційних позначень як типових об’єктів права інтелектуальної власності. Правила класифікування комерційних позначень, що є торговельними марками. Правила складання заявки про реєстрацію певного комерційного позначення як типового об’єкта права інтелектуальної власності. Правила подання заявок про реєстрацію комерційних позначень за національною процедурою. Правила подання заявок про міжнародну реєстрацію комерційних позначень, що є торговельними марками. Правила експертизи заявок про реєстрацію комерційних позначень, що є типовими об’єктами права інтелектуальної власності. Види висновків, рішень та запитів патентної експертизи за матеріалами заявки про реєстрацію комерційних позначень, що є типовими об’єктами права інтелектуальної власності. Міжнародна заявка про реєстрацію певного комерційного позначення як типового об’єкта права інтелектуальної власності, вимоги до їх змісту та оформленню.
Рекомендовані інформаційні джерела 1-8, 12, 14, 25-28, 34, 38.
Ключові слова: комерційні позначення, торговельні марки, національна процедура реєстрації комерційних позначень, міжнародна реєстрація комерційних позначень, патентна експертиза.