|
||||||||||||||||||||||
Категории: АстрономияБиология География Другие языки Интернет Информатика История Культура Литература Логика Математика Медицина Механика Охрана труда Педагогика Политика Право Психология Религия Риторика Социология Спорт Строительство Технология Транспорт Физика Философия Финансы Химия Экология Экономика Электроника |
Теория метода и описание установкиЛабораторная работа № 8 НАБЛЮДЕНИЕ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫХ ЛИНИЙ РАВНОГО НАКЛОНА И ОПРЕДЕЛЕНИЕ ПОРЯДКА ИНТЕРФЕРЕНЦИИ Цель работы: наблюдение интерференционных линий равного наклона и определение порядка интерференции с помощью оптического квантового генератора. Оборудование: оптический квантовый генератор-лазер, плоскопараллельный стеклянный диск, микроскопический объектив, экран. Теория метода и описание установки В настоящей работе, используя высокую степень монохроматичности излучения лазера, можно осуществить наблюдение интерференционных линий равного наклона при большой разнице хода и определить соответствующий им порядок интерференции. Для наблюдения картины интерференционных полос равного наклона используется световой пучок с большой угловой апертурой, освещающий плоскопараллельный слой прозрачного вещества. Принципиальная схема опыта показана на рис. 1 Микроскопический объектив О собирает параллельный световой пучок лазера в своем фокусе F. Расходящийся из фокуса F световой конус достигает плоскопараллельного стеклянного диска D. Отраженные от передней и задней поверхности диска световые пучки дают интерференционную картину концентрических колец на экране Э. Интерференционное условие минимума отраженного света для угла падения запишется в виде , (1) где h — толщина диска, n — показатель преломления стекла, m —искомый порядок интерференции.
Рис. 1. Схема экспериментальной установки. БП – блок питания He-Ne лазера, ЛИ – лазерный излучатель, Э – экран, П – толстая стеклянная пластина.
Угол падения света на пластинку (диск) связан с углом преломления света внутри пластины условием (2) или, учитывая малость углов и в условиях опыта, соотношением . (3) На опыте можно измерить радиусы rm нескольких интерференционных колец на экране Э и расстояние L, от плоскости экрана, проходящей через фокус объектива F, до поверхности стеклянного диска D (рис. 2.8). Тогда (4)
и, зная n, можно найти значение .m. После этого, применив формулу (1) к нескольким измерениям, можно, исключив h , вычислить mvax , т.е. максимальный порядок интерференции. Учитывая малые значения углов и , имеем (5) откуда, принимая во внимание, что находим или (6) где Истинное значение числа k какого-либо кольца равно k=k0+kx , где kо-число неучтенных темных интерференционных колец между центром интерференционной картины и условным нулевым кольцом. Тогда выражение (6) перепишется так: (7) и 2m оказывается линейной функцией kx. График зависимости 2 от kx будет выглядеть, как показано на рис. 2. Из этого графика можно найти значение k0, экстраполируя до оси абсцисс прямую, заданную уравнением (4) . Тогда будет численно равно длине отрезка ОА, выраженной в соответствующем масштабе единиц. Производная от 2 , взятая по kx , дает возможность найти mmax или (8) Рис. 2. К определению порядка интерференции. Порядок выполнения работы 1. Держатель стеклянного диска установите вдоль оптической оси так, чтобы плоскость стеклянного диска расположилась перпендикулярно к лазерному световому пучку. 2. Включите лазер. Включение лазера производится только дежурным инженером или преподавателем! 3. Получите на экране систему концентрических светлых и темных интерференционных колец-линий равного наклона. 4. Пронумеруете в журнале измерений номерами kx = О, I, 2, ...темные интерференционные кольца, подлежащие измерениям. Нулевой номер приписывается первому видимому на экране темному интерференционному кольцу. 5. С помощью двух перпендикулярных шкал, нанесенных на поверхности экрана , измерьте диаметры темных колец' 6. Из среднего значения длин двух диаметров найдите среднее значение радиусов 7. Измерьте расстояние L от плоскоcти экрана до наружной поверхности стеклянного диска. 8. Пользуясь значениями rm и L, найдите по формуле (2) значение углов m для всех промеренных колец. 9. Рассчитайте значения m2 для всех промеренных колец. 10. Значения углов m , m2и kx занесите в таблицу.
=633нм, n=1.51 Таблица
11. Постройте график зависимости m2 от kx При построении 12. По графику построенной экспериментальной прямой, ее экст 13. Рассчитайте максимальный порядок интерференции по формуле , где d m2 и d kx – конечные приращения величин, m2 и kx найдите по графику. 14.Найдите истинное значение порядков интерференции всех промеренных –интерференционных колец по формуле . Вопросы для самоподготовки: 1. Что такое интерференция света? 2. Получите интерференционное условие минимума отраженного света (формула (1)). 3. Запишите и поясните формулу для интерференционных максимумов отраженного света. 4. Что такое геометрическая, оптическая и эффективная разность хода волн? 5. Из каких явлений следует, что при отражении света от оптически более плотной среды происходит потеря полуволны? 6. Какими основными свойствами обладает лазерное излучение? 7. Почему при использовании лазерного излучения выполняются условия интерференции света? ЛИТЕРАТУРА 1. Ландсберг Г. С. Оптика. — М.: Наука, 1976. С. 120-125. 2. Савельев И. В. Курс общей физики. — М.: Наука, 1971. Т. 3. С. 90-99. 3. Физический практикум. Электричество и оптика / Под ред. В. А. Ивероновой. — М.: Наука. I968. С. 781-784. |