РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ И МЕТОДЫ ИСПЫТАНИЙ БЭК
Для определения качества БЭК введены следующие радиотехнические характеристики: коэффициент безэховости Кби «кажущаяся» ЭПР sк.
Основной радиотехнической характеристикой безэховой камеры является коэффициент безэховости Кб, определяемый во всем рабочем диапазоне и во всей безэховой зоне БЭК. Напомним, что безэховой зоной БЭК называется объем, в любой точке которого Кб меньше заданного значения.
Коэффициентом безэховости Кбназывается отношение потока мощности, рассеянного камерой Pрас, к потоку мощности, пришедшему от излучателя, Рпад в заданной точке безэховой зоны БЭК и определяется, как правило, по следующей формуле:
K6 = 10lg(Ppaсc/Pnaд.).(5.1)
Коэффициент безэховости БЭК определяется по «наихудшему» его значению к безэховой зоне [7 и 8, 59].
Для характеристики БЭК, в которой измеряется ЭПР радиолокационной цели, вводится понятие «кажущаяся» ЭПРБЭК sк.«Кажущейся» ЭПРБЭК называется ЭПР эталонного рассеивателя (например шара), помещенного на месте испытуемого рассеивателя (на расстоянии rот приемопередающей антенны измерительной установки) и имеющего такую ЭПР, которая создает у приемопередающей антенны такую же плотность потока мощности, какую создают там же все отраженные от БЭК волны.
В настоящее время для испытаний БЭК разработаны следующие методы: непосредственного измерения рассеянной мощности; перемещающегося индикатора (метод КСВ); наложения диаграмм направленности приемной антенны, свип-генератора (метод генератора качающейся частоты); двух приемных антенн; измерений «кажущейся» ЭПР БЭК.
 |
Метод непосредственного измерения рассеянной мощности.Этот метод является наиболее простым и оперативным, но его точность зависит от диаграммы направленности индикаторной антенны, выбранной для измерений. Для реализации метода требуются приемные антенны, имеющие малые боковые и задние лепестки диаграммы направленности. Для удовлетворительных измерений эти лепестки должны быть на 25 ¸ 30 дБ меньше, чем измеряемый коэффициент безэховости. Так, для измерений коэффициента безэховости Кбпорядка —40 дБ требуется антенна, у которой боковые и задние лепестки диаграммы меньше —65 ¸ —70 дБ. В настоящее время известны типы антенн, у которых диаграммы имеют малые лепестки. Это ребристые рупорные антенны [75, 76], «диагональные» рупорные антенны [73] и рупорные антенны, покрытые РПМ [74]. При измерениях используется измерительная установка, собранная по схеме, приведенной на рис. 5.1. Индикаторная антенна Апрповорачивается поворотным устройством 3 в заданной плоскости и при каждом угле ориентации главного максимума диаграммы фиксируется с помощью аттенюатора 1 и приемника 2 принимаемая мощность. Затем принятая мощность нормируется к максимальной и строится диаграмма в полярных или декартовых координатах (рис. 5.2). Такую диаграмму, если исключить сектор, соответствующий главному лепестку индикаторной антенны Aпр (например, сектор, равный 120° между углами от 300° до 60° на рис. 5.2), будем называть диаграммой коэффициента безэховости.
Метод КСВ. При этом методе испытаний используется индикаторная антенна, имеющая диаграмму с малыми боковыми и задними лепестками [73—76]. Эта антенна передвигается в безэховой зоне БЭК по различным направлениям, схематически изображенным стрелками на рис. 5.3, а, б. В методе, описанном Галаганом [7], антенна передвигается в трех взаимоперпендикулярных направлениях вдоль главных осей БЭК. При этом для селекции отражений применяется направленная антенна, которая направляется после завершения очередного цикла измерений на различные места стен БЭК, так что угол q1 между осью ОХ, вдоль которой передвигается антенна, и осью антенны изменяется от 0° до 90° с шагом 10°. При движении антенны вдоль оси OY угол q2 между осью ОХ и осью антенны изменяется с тем же шагом от 90° до 180°, так что индикаторная антенна при этом направлена на заднюю часть БЭК. При движении антенны изменяется фаза падающего Епад и рассеянного Ерас полей, в результате чего на индикаторе фиксируется интерференционная картина полей, похожая на запись КСВ в измерительной линии.
При передвижении индикаторной антенны по главным осям БЭК амплитуда падающего поля Епад, принятого индикаторной антенной, почти не изменяется, а амплитуда рассеянного поля £рас изменяется, в результате чего изменяется как средний уровень Uср результирующего поля, так и разброс DU (см. рис. 5.4,б).
При измерениях можно передвигать индикаторную антенну по радиусам так, как показано на рис. 5.3,б. При таком движении индикаторная антенна всегда направлена на определенный участок БЭК, так что при этом амплитуда принятого рассеянного поля Eрас изменяется мало, хотя при измерениях несколько изменяется амплитуда падающего поля Eпад Примеры записи осцилляционных кривых приведены на рис. 5.4. Наиболее четко кривая записана на рис. 5.4,а,на котором приведен результат интерференции прямой волны, принятой задним лепестком индикаторной антенны, и волны, отраженной от задней стенки БЭК и принятой главным лепестком индикаторной антенны. Как видно, средний уровень Uср—35 дБ, разброс поля DU=12 дБ. Пользуясь номограммой Бакли [8] на рис. 5.5,а, получаем коэффициент безэховости Кб, = 38,5 дБ. Тот же результат несколько более удобно можно получить из номограммы Галагана [7], приведенной на рис. 5.5,б. По разбросу DU=12 дБ получаем коэффициент отражения R = 3,5 дБ и далее коэффициент безэховости
Ka = Ucp + R. (5.2)
Подставляя измеренные значения, получаем Kб = - (35 + 3,5) дБ = —38,5 дБ. На рис. 5.4,б приведена осцилляционная кривая, снятая при перемещении индикаторной антенны вдоль продольной оси БЭК [46], когда амплитуда рассеянного поля Ерас изменялась. Поэтому и средний уровень Uсp,и разброс DU поля изменялись, и для определения среднего коэффициента безэховости Кб.ср необходимо найти локальные Кбi в нескольких точках кривой. Для примера приведем процедуру определения Кб.ср подвум значениям локальных коэффициентов безэховости Кбi.
Для определения К01и К02 (точки b1 с1, и b2, с2) находим UСР1 == -34 дБ, DU1 = 6 дБ, UCP2 = -37 дБ, DU2 = 7дБ. По номограмме рис. 5.10,б находим, что DU1 = 6 дБ соответствует Ri = -8 дБDU2 = 7 дБ соответствует R2 = -7 дБ. Далее по формуле (5.10) определяем Кб1 = -42 дБ, Кб2 = -44 дБ и Кбср = -43 дБ. Имея зависимость Кбот угла, можно построить диаграмму безэховости. Пример диаграммы безэховости приведен на рис. 5.6.
Метод наложения диаграмм направленности.Измерение коэффициента безэховости этим методом было описано Бакли [74], а также Эппил-Хансеном [46].
Для измерения выбирают индикаторную антенну с малым уровнем лепестков. Далее снимают диаграмму направленности вразных точках безэховой зоны БЭК. Затем диаграммы накладывают друг на друга, выбирают среднюю диаграмму, определяют уровень, на котором разброс наибольший, и далее по этому разбросу и уровню диаграммы с помощью номограммы рис. 5.5,а определяют коэффициент безэховости Кб БЭК.
Рассмотрим рис. 5.6 для определения Кб по этой методике. На этом рисунке точками bc отмечен наибольший разброс диаграмм. Для простоты здесь приведено лишь две диаграммы. На самом деле при реальных измерениях их берется значительно больше. Разброс составляет 4 дБ на уровне —26 дБ. По номограмме рис. 5.5,а находим, что соответствующий коэффициент безэховости составляет Кб=-37 дБ. Тот же результат более удобно можно получить, используя номограмму рис. 5.5,б.
Измерение коэффициента безэховостис помощью генератора качающейся частоты.Определение коэффициента безэховости Кб методом КСВ и методам наложения диаграмм направленности имеет тот недостаток, что при измерении необходимо перемещать индикаторную антенну, для чего требуется специальное приспособление и значительное время. Применение генератора качающейся частоты устраняет указанный недостаток [77].
 |
Метод поясняется рис. 5.8, на котором изображена измерительная установка и безэховая камера. Измерительная установка состоит из генератора «качающейся частоты» 1, передающей антенны Aпер, имеющей широкую диаграмму направленности 2; приемной антенны Апр,имеющей диаграмму кардиодного типа 3; приемника 4 и регистрирующего прибора 5. Энергия от передающей антенны распространяется к приемной по прямому лучу 6 и по отраженным лучам, например 7 и 8.
Качество безэховой камеры 9 характеризуется коэффициентом безэховости Кб, равным, по определению, отношению суммы мощностей всех отраженных волн, пришедших в безэховую зону, к мощности прямой волны.
Чтобы приемная антенна приняла все отраженные волны и не приняла прямой волны, ее диаграмма направленности должна быть изотропной и иметь глубокий провал в направлении прямой волны. Такую диаграмму кардиодного типа можно сформировать различными способами, например специально сфазированными вибраторами и рамками; спиральными антеннами с экранами, квазиненаправленной антенной с поглощающим шипом, установленным в направлении прихода прямой волны.
Точность измерения Кб зависит от глубины провала в квазиизотропной диаграмме приемной антенны. Так, например, если провал составляет —55 дБ относительно максимума диаграммы, то такой антенной можно измерить непосредственную Кб БЭК до уровня —40 дБ. Если необходима более высокая точность, ее можно достичь изменением частоты свип-генератора 1 во время измерений. При изменении частоты генератора изменяется электрическая длина прямого луча 6 и отраженных лучей, например 7 и 8, в результате на регистрирующем приборе 5 будет записываться интерференционная кривая, аналогичная кривой в методе КСВ (см. рис. 5.4). Для случая ненаправленной диаграммы коэффициент безэховости БЭК будет определяться в децибелах формулой:
. (5.10)
С учетом диаграммы направленности приемной антенны формула (5.10) приобретает вид
, (5.11)
где Pamin — мощность в провале диаграммы приемной антенны, направленной на передающую антенну; Pamax — мощность в максимуме диаграммы приемной антенны.
Для того чтобы измерения с генератором качающейся частоты были правильными, необходимо удовлетворить следующим условиям:
1. Произведение коэффициента усиления передающей антенны Gпер(l) и эффективной поверхности приемной антенны Snp(l)в диапазоне перестройки генератора качающейся частоты, применяемом при измерении, должно быть постоянным:
Gпер(l)Snp(l)= const. (5.12)
2. Отношение чувствительности приемника к мощности передатчика в диапазоне перестройки должно быть постоянным:
Pпр(l)/Pпер(l) = const (5.13)
Если оба условия выполняются приближенно, то перед началом измерений производится калибровка установки, которая затем учитывается при обработке результатов измерений.
Метод двух приемных антенн.В 1981 г. А. А. Зиничев и Ю. А. Зайцев предложили способ определения ошибок, вносимых паразитными отражениями БЭК в измерения характеристик антенн, в котором используются две приемные антенны [78]. Он реализуется с помощью измерительной установки, схема которой приведена на рис. 5.9. Передающая антенна Апер излучает СВЧ сигнал, поступающий в приемные антенны Апр1 и Апр2 двумя путями: непосредственно по лучам 1 и 2 и после отражения, например, от стены 5 безэховой камеры по лучам 3 и 4. Далее сигналы по трактам 8 и 9 поступают на фазометр 11, в котором образуется разностный сигнал за счет сдвига на 180° относительной фазы этих сигналов. Затем путем поворота вокруг вертикальной оси YY стойки 10 с планкой 7 добиваются минимального значения разностного сигнала на фазометре 11 и по оптическому прибору 6 точно определяют угол j1 отсчитываемый в горизонтальной (плоскости между осями XX и X1X1 (рис. 5.9,б). Ось XX проходит через фазовый центр передающей антенны Апер в центр вращения О планки 7, а ось Х1Х1 перпендикулярна планке 7. Далее антенны Апр1 и Anp2 меняют местами, для чего подвижную планку 7 поворачивают на 180° в вертикальной плоскости вокруг оси X1X1. Затем стойки 10 с планкой 7 снова вращают вокруг оси YY до получения минимального значения разностного сигнала на фазометре 11 и спомощью оптического прибора 6 отсчитывают второе значение j2 угла j между осями XX и Х1Х1.
Ошибку, вносимую в измерении паразитными отражениями
от БЭК определяют по формуле
Djк = кd/1(sinj1 + sinj2 ± l/d) - Dj0,
где к = 2л/l, l - длина волны, d - расстояние между фазовыми центрами приемных антенн AПР1 и AПР2, Djо— разность фаз, обусловленная не идентичностью фазовых характеристик трактов 8 и 9. Легко видеть, что если отражения от стен БЭКотсутствуют, то Djк = 0.
Измерение «кажущейся» ЭПР БЭК.Основной характеристикой БЭК, предназначенной для измерения характеристик рассеяния радиолокационных целей, является ее «кажущаяся» эффективная поверхность рассеяния sк. При измерении ЭПР рассеивателя в БЭК необходимо, чтобы наводимый в приемном устройстве сигнал, соответствующий sк, был значительно меньше сигнала, отраженного от измеряемого рассеивателя. На точность определения sк, влияет еще фон, который существует практически во всех установках.
Рассмотрим метод измерения sК с помощью установок с непрерывным излучением и компенсацией остаточного сигнала. Такие установки подробно описаны в [1].
1. С помощью схемы компенсации подбирается такой компенсирующий сигнал, чтобы на высокочастотном детекторе получить глубокий нуль.
Соответствующее этому случаю напряжение на детекторе
, (5.15)
где sкомп — компенсирующий сигнал.
2. Затем измерительная установка как единое целое передвигается в точку, где напряжение на детекторе максимально:
. (5.16)
Эта точка должна находиться от первоначальной в пределах ±l/2. Отношение Umax/Umin характеризует глубину компенсации и должно быть не менее 30 дБ. При этом напряжение, измеренное в максимуме,
, (5.17)
где D — малая погрешность. Можно положить
, (5.18)
и, следовательно, измеренная мощность окажется пропорциональной 4sк.
3. Следующим этапом является калибровка sк по эталонным металлическим сферам. Теоретически ЭПР металлической сферы радиуса rможно считать равной pг2, за исключением резонансных частот и релеевской области.
Если определяется sкБЭК совместно с опорой, на которой укрепляется испытуемый рассеиватель, то эталонная сфера закрепляется на опоре со сдвигом на несколько длин волн от ее вертикальной оси. При вращении опоры фаза сигнала, отраженного от сферы, проходит все значения от 0 до 2кp по отношению к фазе сигнала, отраженного от камеры.
В БЭК без опорной колонны эталонная сфера подвешивается на нити к потолку и приводится в колебательное движение в вертикальной плоскости, содержащей ось камеры, с амплитудой в несколько длин волн. При этом регистрируется интерференционная кривая, аналогичная рис. 5.4,а. Максимальные значения на этой кривой соответствуют полю и'тах, полученному при сложении «поля от камеры» 2Ö`sки «поля от эталонной сферы» Ö`sс, и равны и'тах = 2Ö`sк + Ö`sс, минимальные значения соответствуют полю u'min = 2Ö`sк - Ö`sс.Отношение напряжений в максимуме и минимуме этой кривой будет зависеть от того, что больше: сигнал от камеры или сигнал от эталонной сферы.
Напряжения в первом и втором случае будут выражаться так:
, (5.19)
, (5.20)
а кажущаяся ЭПР БЭК соответственно:
. (5.21)
В (5.20), (5.21) при U1, U2®∞, sк1®sк2®sс/4. Практически при U1, U2 >100 можно считать sк1»sк2»sс/4. Следовательно, чем больше «разброс» (D, дБ) интерференционной кривой, тем ближе sк к sс/4. При U1, U2 >100 для определения коэффициента [(U+1)/(U—I)]2 можно пользоваться номограммой рис. 5.5,б, на которой по вертикальной оси отложен «разброс», а по горизонтальной 201g[(U+l)/(U—1)] (см. табл. 5.1, колонка 3). Для более точного определения по измеренному «разбросу» коэффициента [(U+1)/(U—1)]2, на который нужно умножить или разделить sс/4, чтобы получить sи (5.20), (5.21), приводится табл. 5.1.
Таблица 5.1
| Разброс V, дБ | Коэффициент
|
| Разброс V, ДБ | Коэффициент
|
| |
| 0,1 0,2 0,3 0,4 0,5 0,6 0,7 0,8 0,9 1,0 2,0 3,0 | 44,5 38,9 35,3 32,8 30,8 29,2 27,9 26,8 25,7 24,8 18,8 15,3 | 4,0 6,0 6,0 7,0 8,0 9,0 10,0 15,0 20,0 25,0 30,0 40,0 | 20 13 9,1 6,8 5,4 4,4 3,7 2,1 1,5 1,3 1,14 1,04 | 13,0 11,4 9,6 8,3 7,3 6,4 5,7 3,2 1,8 1,1 0,58 0,18 |
Для определения sк БЭК следует провести измерения с несколькими эталонными сферами, которые нужно выбирать так, чтобы «разброс» (D, дБ) на интерференционной кривой был порядка 3 ¸ 20 дБ. Из полученных skiследует отобрать те, которые ближе всего друг к другу по одной величине для каждой сферы. Среднее всех найденных значений ski и есть искомая sк.
Методы уточнения измеренных элементов ЭПР в БЭК [1]. При аттестации эталонных рассеивателей экспериментальным методом необходимо определить их диаграммы ЭПР. При этом наибольшую трудность представляет выявление систематических погрешностей в измерениях. Если рассеиватель при измерениях вращается так, что ось вращения остается неподвижной в пространстве, многократные измерения диаграммы ЭПР не приводят к ее уточнению. Для компенсации систематических погрешностей необходимо смещать рассеиватель относительно элементов измерительной установки и опоры на расстояние, равное l/4 и l/2 [79]. Если измерения диаграммы ЭПР проводятся в БЭК, приемная антенна и приемник принимают полный вектор рассеянного поля U, который можно разложить на несколько составляющих: Vp—поле от рассеивателя; V3 — поле от задней стенки; Vб — поле, рассеянное боковыми стенками; Vар — поле, двукратно рассеянное антенной и рассеивателем; VP3 — поле двукратно рассеянное рассеивателем и задней стенкой, Vp6 — поле, двукратно рассеянное рассеивателем и боковой стенкой.
 |
Во время измерений определяют полное поле при расположении рассеивателя в точке А, а затем в точке В, находящейся на оси камеры, но сдвинутой относительно точки А на расстояние, равное l/4 (рис. 5.10,а). При этом фаза векторов Vap и Vpз изменится на p и при сложении векторов V(А) и V(В) эти составляющие исключатся. При перемещении рассеивателя в точку С, находящуюся от Ана расстоянии l/2, по перпендикуляру к оси камеры (рис. 5.10,б) фаза векторов Vp6 и V6 изменится на p и при сложении векторов V(A) и V(С) эти составляющие исключатся. Остальные составляющие при векторном сложении уменьшаются.
Таким образом, при перемещении рассеивателя относительно измерительной установки на l/2 и l/4 одна часть паразитных рассеяний компенсируется, а другая превращается в случайные погрешности и может быть уменьшена при суммировании результатов многократных измерений. Процесс измерения диаграммы ЭПР можно автоматизировать, перемещая ось вращения рассеивателя во время измерения по окружности радиуса l/4 и одновременно перемещая ее относительно приемопередающей антенны за каждый оборот рассеивателя на расстояние немного меньше l/4 вдоль оси камеры (рис. 5.10,в) [1]. Фиксируя результаты измерения ЭПР рассеивателя и производя статистическую обработку на компьютере, можно получить существенное уточнение результатов измерений. При обработке результатов определяют среднюю диаграмму из некоторого числа измерений, которая существенно точнее диаграммы каждого индивидуального измерения: основные систематические погрешности измерения оказываются скомпенсированными, а случайные уменьшаются в Ö`nраз, где n— число измерений. Особо точные измерения при аттестации эталонных рассеивателей должны производиться многократно при изменении радиуса вращения оси рассеивателя и высоты его подвеса. Определяя среднюю диаграмму. ЭПР из серии измерений, можно получить ее уточнение, мерой которого является дисперсия. При выполнении измерений необходимо, чтобы опора или подвеска модели не вносила погрешностей в результате измерений; для этого ЭПР опоры должна быть на 2 ¸ 3 порядка меньше минимально измеряемой ЭПР. Такому условию удовлетворяют подвески из капроновых нитей.
На рис. 5.11 приведена диаграмма ЭПР цилиндра, измеренная по указанной методике, которая сравнивается с диаграммой, рассчитанной теоретически методом краевых волн [1]. Из рисунка видно, что теоретическая диаграмма и экспериментальные точки нигде не отличаются больше чем на 3 дБ.
 |
Для аттестации эталонного рассеивателя можно измерить диаграммы ЭПР на различных установках и усреднить полученные результаты. В связи с тем, что систематические погрешности различных установок не коррелированны, при усреднении результатов можно считать, что имеются лишь случайные погрешности. Поэтому многократные измерения на различных установках приводят к уточнению диаграммы ЭПР эталонного рассеивателя.
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
1. Майзельс Е. Н., Торгованов В. А. Измерение характеристик рассеяния радиолокационных целей. — М.: Сов. радио, 1972. — 232 с.
2. Мицмахер М. Ю. Качество современных безэховых камер и радиопоглощающие материалы. — В сб.: Антенны/Под ред. А. А. Пистолькорса. М.: Связь, 1980, вып. 28, с. 147—164.
3. Emerson W. H. Electromagnetic Wave Absorbers and Anechoic Chambers Through the Years. — IEEE Trans., 1973, AP-21, № 4, p. 484—490.
4. Aviation Week and Space Technology, 1970, v. 92, № 10, p. 201»
5. Electronic Design, 1971, v. 19, № 17, p. 24.
6. Vaffee M. L. New Facility to Reduce R and D Costs, — Aviation Week and Space Technology, 1971, v. 95, № 3, July 19, p. 44—46.
7. Buckley E. F. Microwave Reflectivity Measurement — Theory and Practice.— Electronic Design (Microwaves), 1962, March 15, p. 12—19.
8. Buckley E. F. Design Evaluation and Performance Modern Microwave Anechoic Chambers for Antenna Measurements, — Elecronic Components, 1965, v. 6, N 12, p. 1119—1126.
9. Methods of Radar Cross-section Analysis/Edited by J. W. Crispin and К. М. Siegel, — Acadcmicpress, New York, London, 1968.
10. Эмерсон, Сефтон. Улучшенная конструкция безэховой камеры. — ТИИЭР, 1965, т. 53, № 8, с. 1227—1229.
11. Фрини. Параметры опор целей, связанные с измерениями их отражательной способности. — ТИИЭР, 1965, т. 53, № 8, с. 1066—1074.
12. Buckley E. F., Niles G. E. Reflexions armed Antennenmesraume fur Mikrowellen. — Elektrotechnic, 1969, v. 51, H. 17, s. 14—18.
13. Buckley E. F., Niles G. E. Bcurteilung und Abschirmung Peflexionsarmer Antennenmessraume fur Microwellen. — Elektrotechnic, 1969, v. 51, H20, s. 12—15.
14. Пат. № 1212175 (ФРГ).
15. Пат. № 997027 (Великобритания).
16. Пат. № 3365667 (США).
17. Johnson R. C. The Development of Compact Antenna Range Techniques. — IEEE Convention Record, 1968, Session 11, Antenna. SI 1-lpl—SIl-lp8.
18. Johncon R. C, Ecker H. A. and Moore R. A. Compact Range Techniques and Measurements. — IEEE Trans., 1969, AP-17, № 5, p. 568—576.
19. Anechoic Chamber duplicates far-field out-door ranges, Microwaves, 1977, v. 16, № 8, p. 85.
20. Koob K. A. and Liesenkotter В. Н. С The Semi-Open Anechoic Chamber, — Microwaves Journal, 1978, v. 21, № 6 p. 120—123.
21. Пат. № 3100870 (США).
22. Пат. № 3113271 (США).
23. ECM Research Gets Boost with RAE'S Anechoic Chamber. — Electronics Weekly, 1970, № 580, p. 36.
24. Пат. №3120641 (США).
25. Пат. № .3308467 (США).
26. Пат. № 1062142 (Великобритания)
27. Пат. № 769289 (Канада).
28. Пат. ЛЬ 1444439 (Франция)
29. Пат. № 3273150 (США).
30. А. с. № 427432 (СССР). Безэховая камера/Тучков Л. Т., Биричевский В. М., Бойко Б. М. и др. — 1974.Б. И. № 17.
31. Пат. № 2656535 (США).
32. А. с. № 214622 (СССР). Безэховая рупорная камера/Сагач В. Е. и Фахрудинов К. И. — 1968. Б. И. № 12.
33. А. с. № 345452 (СССР). Безэховая камера/Тучков Л. Т., Щепкин Ю. Н., Уланов Р. Т. и др. — 1972. Б. И. № 22.
34. А. с. № 411556 (СССР). Безэховая камера/Биричевский В. М. 1974. Б. И. № 2.
35. А. с. № 451919 (СССР). Рупорная безэховая камера/Глускин А. А., Комаров О. И. и Мицмахер М. И. — Б. И. № 44, 1974.
36. А. с. № 472409 (СССР). Безэховая камера/Зиновьев Ю. С. и Вяткнна В. М. 1975. Б. И. № 20.
37. А. с. № 309316 (СССР). Безэховая камера/Торгованов В. А. — Б. И. № 22, 1971.
38. А. с. № 173813 (СССР). Безэховая камера для антенных измерений/Пиотровский А. А. 1965. Б. И. № 16.
39. А. с. № 201476 (СССР). Безэховая камера для измерения параметров излучателей/Кинбер Б. Е., Левин М. М., Дергачева Л. Ф. и Зайцев Ю. А. 1967. Б. И. № 18.
40. А. с. № 309423 (СССР). Безэховая камера/Зайцев Ю. А. и Торгованов В. А. 1971. Б. И. № 22.
41. А. с. № 369518 (СССР). Установка для измерения характеристик электромагнитных полей/Дзюндзюк Б. В. и Филиппенко В. Е. 1973. Б. И. № 10.
42. Corona P., d'Ambrosio G. Una camera anecoica eiettromagnetica di nuovo designo. Delineazione delle caracteiistiche e verifica delle prestazioni. — Alta Frequenza, 1976, v. 45, № 1, p. 6—19.
43.Куммер В. X. и Джиллеспи Э. С. Антенные измерения. — ТИИЭР, 1978, т. 66, № 4, с. 143—173.
44. Мицмахер М. Ю. Бсзэховые камеры. Методы разработки, испытания, основные типы и характеристики: Лекции. — Ереван, 1968 дсп. № 178, Поиск, сер. А, № 12, реф. 2129.
45. Central Target Simulator Facility. — Microwave Journal, 1979, v. 22, № 2, p. 19.
46.Appel-Hansen J. Reflectivity Level of Radio Anechoic Chambers. — IEEE Trans., 1973, v. AP-21, № 4, p. 490—498.
47. An Anechoic Chamber for Advanced Research. — Microwave Journal, 1970, v. 22, № 12, p. 19.
48. Anechoic chamber kits cover 200 MHz to 30 GHz. — Microwaves, 1972, v. 11, N 6, p. 75.
49. Microwave Anechoic Chamber Kits. — Microwave Journal, 1972, v. 15, № 7, p. 54
50. Czerwinski Watson P., Seward G. J. A Wide-band antenna impedanse simulator — IEEE Trans., 1973, v. AP-21, № 4, p. 588—589.
51. Пат № 3806943 (США).
52. Roll—out chamber checks small antennas from 2—18 GHz. — Microwaves, 1975, v. 11, № 12, p. 64.
53. Small, High Power UHF Anechoic Shielded Chamber. — Frequency Technology, 1970, v. 8, № 6, p. 35.
54. Шнейдерман Я. А. Радиопоглощающие устройства: Обзоры. — Зарубежная радиоэлектроника, 1965, № 4, с. 115—135; 1969, № 6, с. 101—124; 1972, № 7, с. 102—132; 1975, № 2, с. 93—113 и № 3, с. 71—92.
55. Алимин Б. Ф., Торгованов В. А. Методы расчета поглотителей электромагнитных волн: Обзоры. — Зарубежная радиоэлектроника, 1976, № 3, с. 29— 57; 1976, № 8, с. 60—80.
56. Алимин Б. Ф. Техника расчета отражения и рассеяния от поглотителей электромагнитных волн: Обзор. — Зарубежная радиоэлектроника, 1977, № 3, с. 128—151.
57. Electronic Equipment News, 1963, v, 4, № 10, p. 48—50, 54.
58. Пат. № 1294511 (ФРГ).
59. Emerson and Cuming Inc. «Free Space Microwave Absorbers».
60. System Measurements in Anechoic Chambers. — Microwave Journal, 1980, v. 23, № 2, p. 79.
61. Aviation Weeck and space Technology, 1964, v. 80, № 3, p. 72—92.
62. Aviation Week and Space Technology, 1970, v. 92, № 10, p. 201»
63. Ferrite and synthetic absorbers cover 0.03 to 100 GHz. —Microwave Journal, 1980, v. 23, № 1, p. 65.
64. Пат. № 3623099 (США).
65. Ferrite absorber series for 50 MHz —15 GHz band. — Microwave Journal, 1980, v. 23, № 2, p. 79.
66.Пригода Б. А., Кокунько В. С. Обтекатели антенн летательных аппаратов. — М.: Машиностроение, 1970.
67.Куммер В. X. и Джиллеспи Э. С. Антенные измерения. — ТИИЭР, 1978, т. 66, № 4, с. 143—173.
68.Джонсон Р., Экер X., Холлис Дж. Определение диаграммы направленности антенн по результатам измерения в ближней зоне. — ТИИЭР, 1973, т. 61, № 12, с. 8—38.
69. Мицмахер М. Ю. Безэховые камеры. Методы разработки, испытания, основные типы и характеристики: Лекции. — Ереван, 1968 ДСП. № 178, Поиск, сер. А, № 12, реф. 2129).
70.Бреховских Л. М. Волны в слоистых средах. — М.: АН СССР, 1957. — 229 с.
71. Каценеленбаум Б. 3. Высокочастотная электродинамика. — М.: Наука, 1966, с. 27—34.
72. Millan Mc. «Electromagnetic Wave Absorbers».
73.Love A. W. The Diagonal Horn Antenna, Electromagnetic Horn Antennas,
— IEEE Press. Edited by A. W. Lowe, 1976.
74.Dybdal R. B. Horn Antenna Sidelobe Reduction Using Absorber Tunnels, — AP-S International Symposium, 1977, p. 324—327.
75.Janssen IW. A., Bednarczyk S. JW., Gulkis S. and others. Pattern Measurements of Low-sidelobe Horn Antenna. — IEEE Trans, on Ant. and Prop., 1979, v. AP-27, N 4, p. 551—555.
76.Fasold D., and Pecher H. Gain of Rectangular Horns. — Microwave Journal, 1979, v. 22, № 3, p. 76—79.
77.А. с. 345451 (СССР). Устройство для измерения параметров безэховых камер/Торгованов В. А. 1972. Б. И. № 22.
78. А. е.. 815681 (СССР). Способ определения ошибок безэховой камеры/Зиничев А. А. и Зайцев Ю. А. — Б. И. 1981, № 11.
79. Халберштейн, Фрич. Исключение мешающих отражений от стен безэховых камер методом сдвига на l/4 и l/2. — ТИИЭР, 1964, т. 52, № 12.
80. Альперт Я. Л., Гинзбург В. Л., Фейнберг Е. Л. Распространение радиоволн. — М.: Гостехпздат, 1953, с. 47.
81.Уфимцев П. Я. Метод краевых волн в физической теории дифракции. — М.: Сов. радио, 1962, с. 45—47.
82.Мицмахер М. Ю., Торгованов В.А. Безэховые камеры СВЧ. – М.: Радио и связь, 1982, с. 89, 95.
Ильин Игорь Васильевич
Методы проектирования безэховых камер и измерения радиолокационных характеристик
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ ПОСОБИЕ
Ответственный за выпуск
Редактор
Корректор